近年来国内外电子整机的失效统计显示，元器件造成的失效占50%的比例。多年来一直居高不下，引起人们普遍关注。元器件本身及使用的可靠性提高对于整机可靠性的提高具有关键的作用。
| 检测对象 | 测试项目 | 相应测试设备 | 型号 |
| 电子元器件 | 热冲击： 确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用 |
冷热冲击箱 | CTS系列/CTD系列 |
| 温度循环： 确定光电子器件承受极高温和极低温度的能力， 以及极高温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 |
高低温箱 | GDW系列 | |
| 恒定湿热： 确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 |
高低温湿试验箱 | ITM-LHC-408L | |
| 高温寿命： 确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 |
高温试验箱 | DHG系列 | |
| 高温加速老化： 加速老化过程中的最基本环境应力式高温，在实验过程中， 应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 |
可程式高温试验箱 | ITM-1400L | |
| 恒温试验： 恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 |
恒温恒湿试验箱 | GDJS系列 | |
| 变温试验： 变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 （例如：60℃、85℃和100℃） |
快速温变试验箱 | KTB系列 |
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