高低温按键寿命试验箱RS-8330GDW
高低温按键寿命试验箱
产品用途:
本机适用于手机、平板电脑、电子词典、导航仪、计算机键盘、汽车DVD/CD、各种遥控器等产品按键作高温老化条件下的耐打击寿命测试。
技术参数:
温度范围
|
-40~+100℃
|
温度波动度
|
±0.5℃
|
温度偏差
|
≤1℃
|
温度均匀度
|
≤2.0℃(-40~+100℃范围)
|
升温时间
|
从25℃升至100℃ 40分钟,全程平均非线性,空载
|
降温时间
|
从20℃降至-40℃ 60分钟,全程平均非线性,空载
|
可测试区域
|
W450*D450*H500mm
|
升降温过冲
|
≤±2℃
|
箱体最大负载
|
箱体承重:50Kg
|
高低温箱满足
试验标准 |
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温试验方法
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高温试验方法. |
气缸打击行程
|
30mm
|
气缸耐温范围
|
高温气缸:室温~75℃,低温气缸:室温~-40℃
|
打击测试速度
|
10~120rpm(取决于气缸伸出时间和缩回时间设定)
|
气缸打击力
|
150~1500g
|
气缸数量
|
8pcs(可以增配,费用另计)
|
测试计数设定
|
0~999999可设定
|
高低温箱尺寸/按
键控制箱尺寸 |
W1000*D1100*H1500mm/ W650*D400*H1700mm
|
高低温箱重量/按
键控制箱重量 |
(约)250kg/约65kg
|
电源
|
1∮,AC220V, 4K
|