近年来国内外电子整机的失效统计显示，元器件造成的失效占50%的比例。多年来一直居高不下，引起人们普遍关注。元器件本身及使用的可靠性提高对于整机可靠性的提高具有关键的作用。
| 检测对象 | 测试项目 | 相应测试设备 | 型号 |
| 电子元器件 | 热冲击： 确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用 |
冷热冲击箱 | CTS系列/CTD系列 |
| 温度循环： 确定光电子器件承受极高温和极低温度的能力， 以及极高温度和极低温度交替变化对电子器件的影响 |
高低温箱 | GDW系列 | |
| 恒定湿热： 确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度 |
高低温湿试验箱 | ITM-LHC-408L | |
| 高温寿命： 确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命 |
高温试验箱 | DHG系列 | |
| 高温加速老化： 加速老化过程中的最基本环境应力式高温，在实验过程中， 应定期监测选定的参数，直到退化超过寿命终止 |
可程式高温试验箱 | ITM-1400L | |
| 恒温试验： 恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数 |
恒温恒湿试验箱 | GDJS系列 | |
| 变温试验： 变化温度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度 （例如：60℃、85℃和100℃） |
快速温变试验箱 | KTB系列 |
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导读：在消费电子质检领域，一次不受控的跌落，往往意味着高昂的售后成本和品牌声誉风险。传统自由跌落测试随机性大、数据重现性差，难以锁定产品结构薄弱点。而定向跌落试验机的出现，彻底改变了这一局面。它专为手机、平板等精密设备设计，能精准模拟边、角、面等特定部位的撞击场景，为产品抗摔性能优化提供毫秒级、毫米级的可靠数据支撑。
